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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characteristics of submicron-footprint TiO2 based AlGaN/GaN MOSHEMT on SiC substrate 其他 2013-01-01 Di, Meng; Lin, Shuxun; Wen, Cheng P.; Wang, Maojun; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Kei May; Wu, Wengang 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Analysis on the CTLM and LTLM applicability for GaN HEMTs structure alloyed ohmic contact resistance evaluation 其他 2013-01-01 Lin, Shuxun; Meng, Di; Wen, Cheng P.; Wang, Maojun; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Kei May 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface-Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Jinyan Wang; Yilong Hao; Yaohui Zhang; Tang 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain  nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain   Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13