|
已选(0)清除
条数/页： 排序方式：
|
| Benchmarking lane-changing decision-making for deep reinforcement learning 会议论文
Guangzhou, China, 2021-11
作者: Wang JJ(王俊杰); Zhang QC(张启超); Zhao DB(赵冬斌)
  收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2023/05/30 |
| Effect of laser shock processing on the surface morphology and microstructure of metal material 会议论文
Shanghai, China, October 17-20, 2020
作者: Hu XL(胡宪亮); Zhao JB(赵吉宾); Wu JJ(吴嘉俊); Lu Y(陆莹); Sun BY(孙博宇)
收藏 | 浏览/下载：20/0 | 提交时间：2021/01/17
|
| The research progress on strengthen property and mechanism of warm laser shock peening 会议论文
Shanghai, China, October 17-20, 2020
作者: Yang YQ(杨玉奇); Zhao JB(赵吉宾); Qiao HC(乔红超); Wu JJ(吴嘉俊); Hu XL(胡宪亮)
收藏 | 浏览/下载：4/0 | 提交时间：2021/01/17
|
| Research on the technical principle and typical applications of laser shock processing 会议论文
Indore, India, December 15-17, 2020
作者: Wu JJ(吴嘉俊); Zhao JB(赵吉宾); Qiao HC(乔红超); Hu XL(胡宪亮); Yang YQ(杨玉奇)
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2021/05/24
|
| Lane change decision-making through deep reinforcement learning with rule-based constraints 会议论文
Budapest, Hungary, 2019-7
作者: Wang JJ(王俊杰); Zhang QC(张启超); Zhao DB(赵冬斌); Chen YR(陈亚冉)
收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2023/05/30
|
| Correlation between the Decoupling Capacitor Layouts and Single-Event-Upset Resistances of SRAM cells 会议论文
作者: Zhentao Li; Zheng ZS(郑中山) ; Zhao K(赵凯); Li B(李博); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：22/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Back gate impact on SEU Characterization of a Double SOI 4k-bit SRAM 会议论文
作者: Gao JT(高见头); Li BH(李彬鸿); Huang Y(黄杨); Li B(李博); Zhao FZ(赵发展)
收藏 | 浏览/下载：46/0 | 提交时间：2019/05/09 |
| The impact of TID effect on EMS of PDSOI voltage reference circuits 会议论文
作者: An ZH(安志航); Li BH(李彬鸿); Li B(李博); Zhao WX(赵文欣); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：12/0 | 提交时间：2019/05/10 |
| Research on Parent-child Behavior in Waiting Area of Hospital Based on Monitoring Data(Ⅱ)—Analysis on the Activity Region and Behavioral Pattern 会议论文
Proceedings of the 13th International Symposium for Environment-Behavior Studies
作者: Liu YJ(刘瑶佳); Gu ZC(顾宗超); Lu W(陆伟); Wu L(吴亮); Zhao JJ(赵敬敬)
收藏 | 浏览/下载：11/0 | 提交时间：2019/12/02 |
| Mobility Degradation by Remote Coulomb Scattering and Distribution of Charge and Dipole in Al2O3/GeOx Gate Stacks of Ge Based MOSFET 会议论文
作者: Xiang JJ(项金娟); Zhou LX(周丽星); Wang XL(王晓磊); Zhao C(赵超); Ye TC(叶甜春)
收藏 | 浏览/下载：14/0 | 提交时间：2018/07/26 |
