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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 X-ray multilayer mid-frequency characterizations using speckle scanning techniques 会议论文 San Diego, CA, AUG 06-07, 2017 作者:  Jiang, H;  Yan, S;  Liang, DX;  Tian, NX;  Wang, H 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/31 INTERFACIAL ROUGHNESS  MIRRORS  SCATTERING  TOPOGRAPHY  METROLOGY  OPTICS  FIELD