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微电子研究所 [6]
内容类型
会议论文 [6]
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2016 [1]
2015 [4]
2014 [1]
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内容类型:会议论文
专题:微电子研究所
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The Statistics of Set Time of Oxide-based Resistive Switching Memory
会议论文
作者:
Zhang MY(张美芸)
;
Wang GM(王国明)
;
Yu ZA(余兆安)
;
Li Y(李阳)
;
Xu DL(许定林)
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2017/05/19
INVESTIGATION OF THE FORMING PROGRAM FAILTURE IN ITIR STRUCTURE
会议论文
作者:
Liu M(刘明)
;
Long SB(龙世兵)
;
Wang GM(王国明)
;
Zhang MY(张美芸)
;
Liu HT(刘红涛)
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2016/06/14
Justification and Monte Carlo simulation of microstructure evolution process of conductive filament in reset transition in Cu/HfO2/Pt RRAM
会议论文
作者:
Liu Q(刘琦)
;
Xu XX(许晓欣)
;
Zhang MY(张美芸)
;
Wang GM(王国明)
;
Liu M(刘明)
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2016/06/14
Improving the Resistive Switching Reliability via controlling the resistance states of RRAM
会议论文
作者:
Liu M(刘明)
;
Liu Q(刘琦)
;
Lv HB(吕杭炳)
;
Xu DL(许定林)
;
Xu XX(许晓欣)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2016/06/14
Methodology for stability evaluation on the multi-level storages of oxide-based conductive bridge RAM (CBRAM)
会议论文
作者:
Zhang MY(张美芸)
;
Lv HB(吕杭炳)
;
Liu M(刘明)
;
Liu HT(刘红涛)
;
Xu XX(许晓欣)
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2016/06/14
Study of the set statistical characteristics in the Cu/HfO2/Pt-based RRAM device
会议论文
Guilin, 2014-10-28
作者:
Sun PX(孙鹏霄)
;
Wang M(王明)
;
Liu HT(刘红涛)
;
Xu XX(许晓欣)
;
Li Y(李阳)
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2016/10/14
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