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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 学科主题：光电子学     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 High-temperature AlN interlayer for crack-free AlGaN growth on GaN 期刊论文 journal of applied physics, 2008, 卷号: 104, 期号: 4, 页码: art. no. 043516 Sun, Q; Wang, JT; Wang, H; Jin, RQ; Jiang, DS; Zhu, JJ; Zhao, DG; Yang, H; Zhou, SQ; Wu, MF; Smeets, D; Vantomme, A 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2010/03/08 STRESS  SI(111)  REDUCTION  THICKNESS   Depth dependence of structural quality in InN grown by metalorganic chemical vapor deposition 期刊论文 materials letters, 2007, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 516-519 作者:  Wang H;  Wang YT;  Wang LL;  Yang H;  Wang H 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2010/03/29 X-ray diffraction   Chemical composition and elastic strain in AlInGaN quaternary films 期刊论文 thin solid films, 2006, 卷号: 515, 期号: 4, 页码: 1429-1432 Zhou, SQ (Zhou, Shengqiang); Wu, MF (Wu, M. F.); Yao, SD (Yao, S. D.); Liu, JP (Liu, J. P.); Yang, H (Yang, H.) 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2010/03/29 Rutherford backscattering spectroscopy   Structural characterization of AlGaN/GaN superlattices by x-ray diffraction and Rutherford backscattering 期刊论文 superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 40, 期号: 3, 页码: 137-143 Zhou SQ (Zhou Shengqiang); Wu MF (Wu M. F.); Yao SD (Yao S. D.); Zhang BS (Zhang B. S.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2010/04/11 nitride semiconductors  superlattice  Rutherford backscattering/channeling  transmission electron microscopy  x-ray diffraction  MULTIPLE-QUANTUM WELLS  OPTICAL-PROPERTIES  INGAN/GAN  STRAIN  INTERFACE  GROWTH  GAN   A study of the degree of relaxation of AlGaN epilayers on GaN template 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 270, 期号: 3-4, 页码: 289-294 Zhang JC; Wu MF; Wang JF; Liu JP; Wang YT; Chen J; Jin RQ; Yang H 收藏  |  浏览/下载：158/53  |  提交时间：2010/03/09 high resolution X-ray diffraction   X-ray-diffraction study of quasipseudomorphic ErSi1.7 layers formed by channeled ion-beam synthesis 期刊论文 journal of applied physics, 1996, 卷号: 80, 期号: 10, 页码: 5713-5717 Wu MF; Vantomme A; Pattyn H; Langouche G; Yang QQ; Wang QM 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/11/17 EPITAXIAL ERBIUM SILICIDE  RARE-EARTH SILICIDES  DIFFUSION MARKER EXPERIMENTS  THIN-FILMS  111 SI  ELECTRICAL-PROPERTIES  ATOMIC-STRUCTURE  IMPLANTED SI  YTTRIUM  GROWTH