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一种电路仿真方法及装置 专利
专利号: CN201610466018.X, 申请日期: 2018-12-25, 公开日期: 2016-11-16
作者:  王林飞;  罗家俊;  韩郑生;  刘海南;  陈丽坤
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一种限制器件模型适用温度范围的方法 专利
专利号: CN201510351261.2, 申请日期: 2018-11-27, 公开日期: 2015-10-21
作者:  卜建辉;  赵博华;  罗家俊;  韩郑生
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2019/03/01
一种SOIMOSFET器件的建模方法 专利
专利号: CN201510303560.9, 申请日期: 2018-11-02, 公开日期: 2015-09-30
作者:  卜建辉;  罗家俊;  韩郑生
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A Base Resistance Controlled Thyristor with N-type Buried Layer to Suppress the Snapback Phenomenon 会议论文
作者:  Hu F(胡飞);  Song LM(宋李梅);  Li B(李博);  Wang LX(王立新);  Luo JJ(罗家俊)
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A Novel Super-Junction Structure to Improve SEB Performance 会议论文
作者:  Wang L(王琳);  Song LM(宋李梅);  Wang LX(王立新);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2019/05/13
Investigation of the relationship between the total dose effect and thickness of Al2O3 gate dielectric under gamma-ray irradiation 会议论文
作者:  Li DL(李多力);  Zhu HP(朱慧平);  Chen X(陈曦);  Zheng ZS(郑中山);  Li B(李博)
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Correlation between the Decoupling Capacitor Layouts and Single-Event-Upset Resistances of SRAM cells 会议论文
作者:  Zhentao Li;  Zheng ZS(郑中山);  Zhao K(赵凯);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊)
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2019/05/13
一种应用于交织SRAM抗软错误累积效应的擦洗方法 专利
专利号: CN201210559913.8, 申请日期: 2018-10-30, 公开日期: 2013-05-22
作者:  刘鑫;  赵发展;  韩郑生
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Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors 会议论文
作者:  Kuang Y(匡勇);  Bu JH(卜建辉);  Li B(李博);  Gao LC(高林春);  Liang CP(梁春平)
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A low leakage current Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者:  Bu JH(卜建辉);  Li DL(李多力);  Xu GB(许高博);  Cai XW(蔡小五);  Kuang Y(匡勇)
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