QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2018    专题：大连理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Frequency Dispersion Analysis of Parasitic Parameters in Thin Dielectric MOS Capacitor 期刊论文 JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 18, 页码: 7473-7478 作者:  Zhang, Xizhen;  Zhang, Sujuan;  Zhu, Huichao;  Pan, Xiuyu;  Cheng, Chuanhui 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/02 Thin Dielectric MOS Capacitors  Frequency Dispersion  Five-Element Model  Parasitic Parameters   Frequency dispersion analysis of thin dielectric MOS capacitor in a five-element model 期刊论文 JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2018, 卷号: 51 作者:  Zhang, Xizhen;  Zhang, Sujuan;  Zhu, Huichao;  Pan, Xiuyu;  Cheng, Chuanhui 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/12/02 MOS capacitors  frequency dispersion  external frequency dispersion  intrinsic frequency dispersion  dielectric characteristics