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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2017     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An Effective Method to Compensate TID Induced Degradation on DSOI Structure 会议论文 作者:  Zheng ZS(郑中山);  Li BH(李彬鸿);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Huang Y(黄杨) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/07/20 一种环形振荡器 专利 专利号: CN201621371632.X, 申请日期: 2017-09-22, 作者:  罗家俊;  高见头;  李彬鸿;  赵发展 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2018/02/07 Impact of DSOI back-gate biasing on circuit conducted emission 会议论文 作者:  Han ZS(韩郑生);  Gao JT(高见头);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊);  Li BH(李彬鸿) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/07/20 The total ionizing dose response of a DSOI 4Kb SRAM 期刊论文 Microelectronics Reliability, 2017 作者:  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生);  Li BH(李彬鸿);  Gao JT(高见头);  Kuang Y(匡勇) 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2018/05/16 一种电子元器件测试恒温系统 专利 专利号: CN201621133274.9, 申请日期: 2017-05-10, 作者:  刘征;  赵发展;  高见头;  王春林;  罗家俊 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2018/02/07