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提高化学机械平坦化工艺均匀性的方法 专利
专利号: CN201210112494.3, 申请日期: 2016-09-21, 公开日期: 2013-10-30
作者:  崔虎山;  李俊峰;  侯瑞兵;  赵超;  杨涛
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2017/06/30
Temperature- and voltage-dependent trap generation model in high-k metal gate MOS device with percolation simulation 期刊论文
Chinese Physics B, 2016
作者:  Xu H(徐昊);  Yang H(杨红);  Wang YR(王艳蓉);  Luo WC(罗维春);  Qi LW(祁路伟)
收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2017/05/09
Study on influences of TiN capping layer on time-dependent dielectric breakdown characteristic of ultra-thin EOT high-K metal gate NMOSFET with kMC TDDB simulations 期刊论文
Chinese Physics B, 2016
作者:  Xu H(徐昊);  Yang H(杨红);  Luo WC(罗维春);  Wang YR(王艳蓉);  Tang B(唐波)
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2017/05/09
Study of SiGe selective epitaxial process integration with high-k and metal gate for 16/14 nm nodes FinFET technology 期刊论文
Microelectronics Engineering, 2016
作者:  Wang GL(王桂磊);  Qin ZL(秦长亮);  Yin HX(殷华湘);  Duan NY(段宁远);  Yang T(杨涛)
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2017/05/09
多晶硅假栅移除后的监控方法 专利
专利号: CN201110165279.5, 申请日期: 2016-03-23, 公开日期: 2012-12-26
作者:  赵超;  陈大鹏;  杨涛;  闫江;  李俊峰
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2017/07/03
一种研磨垫清洗方法和装置 专利
专利号: CN201110066718.7, 申请日期: 2016-01-27, 公开日期: 2012-09-19
作者:  赵超;  杨涛;  李俊峰
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Integration of Selective Epitaxial Growth of SiGe/Ge layers in 14nm Node FinFETs 期刊论文
ECS Transactions, 2016
作者:  Yin HX(殷华湘);  Wang GL(王桂磊);  Luo J(罗军);  Qin ZL(秦长亮);  Cui HS(崔虎山)
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2017/05/09
Junction Control by Carbon and Phosphorus Co-Implantation in Pre-Amorphized Germanium 期刊论文
ECS Journal of Solid state science and tehchnology, 2016
作者:  Liu JB(刘金彪);  Luo J(罗军);  Eddy Simoen;  Yang F(杨芳);  Wang GL(王桂磊)
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2017/05/09


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