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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：1990    学科主题：半导体物理     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 STUDY OF THE QUALITY OF GAAS THIN-FILM ON SI SUBSTRATE BY X-RAY-DIFFRACTION METHOD 期刊论文 chinese physics letters, 1990, 卷号: 7, 期号: 7, 页码: 308-311 LI CR; MAI ZH; CUI SF; ZHOU JM; WANG YT 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/11/15