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科研机构
半导体研究所 [11]
内容类型
期刊论文 [11]
发表日期
2010 [2]
2008 [2]
2007 [2]
2006 [3]
2005 [2]
学科主题
半导体材料 [4]
光电子学 [1]
半导体物理 [1]
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A 10.7 mu m ingaas/inalas quantum cascade detector
期刊论文
Chinese physics letters, 2010, 卷号: 27, 期号: 12, 页码: 3
作者:
Kong Ning
;
Liu Jun-Qi
;
Li Lu
;
Liu Feng-Qi
;
Wang Li-Jun
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2019/05/12
A 10.7 mu m InGaAs/InAlAs Quantum Cascade Detector
期刊论文
chinese physics letters, 2010, 卷号: 27, 期号: 12, 页码: article no.128503
作者:
Li L
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浏览/下载:38/2
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提交时间:2011/07/05
WELL INFRARED PHOTODETECTORS
Stress analysis of zno film with a gan buffer layer on sapphire substrate
期刊论文
Chinese physics letters, 2008, 卷号: 25, 期号: 6, 页码: 2277-2280
作者:
Cui Jun-Peng
;
Wang Xiao-Feng
;
Duan Yao
;
He Jin-Xiao
;
Zeng Yi-Ping
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/05/12
Stress analysis of ZnO film with a GaN buffer layer on sapphire substrate
期刊论文
chinese physics letters, 2008, 卷号: 25, 期号: 6, 页码: 2277-2280
Cui, JP
;
Wang, XF
;
Duan, Y
;
He, JX
;
Zeng, YP
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浏览/下载:61/0
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提交时间:2010/03/08
THIN-FILMS
BULK ZNO
SCATTERING
PRESSURE
Growth and characterization of algan/aln/gan hemt structures with a compositionally step-graded algan barrier layer
期刊论文
Chinese physics letters, 2007, 卷号: 24, 期号: 6, 页码: 1705-1708
作者:
Ma Zhi-Yong
;
Wang Xiao-Liang
;
Hu Guo-Xin
;
Ran Jun-Xue
;
Xiao Hong-Ling
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2019/05/12
Growth and characterization of AlGaN/AlN/GaN HEMT structures with a compositionally step-graded AlGaN barrier layer
期刊论文
chinese physics letters, 2007, 卷号: 24, 期号: 6, 页码: 1705-1708
Ma ZY (Ma Zhi-Yong)
;
Wang XL (Wang Xiao-Liang)
;
Hu GX (Hu Guo-Xin)
;
Ran JX (Ran Jun-Xue)
;
Xiao HL (Xiao Hong-Ling)
;
Luo WJ (Luo Wei-Jun)
;
Tang J (Tang Jian)
;
Li JP (Li Jian-Ping)
;
Li JM (Li Jin-Min)
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浏览/下载:70/0
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提交时间:2010/03/29
ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS
High-precision determination of lattice constants and structural characterization of inn thin films
期刊论文
Journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
作者:
Wu, MF
;
Zhou, SQ
;
Vantomme, A
;
Huang, Y
;
Wang, H
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/05/12
Fabrication and properties of Sb-doped ZnO thin films grown by radio frequency (RF) magnetron sputtering
期刊论文
journal of crystal growth, 2006, 卷号: 290, 期号: 1, 页码: 56-60
作者:
Yin ZG
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浏览/下载:55/0
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提交时间:2010/04/11
crystal structure
thermal annealing
X-ray diffraction
RF magnetron sputtering
zinc oxide
semiconducting II-VI materials
P-TYPE ZNO
SPRAY-PYROLYSIS
ZINC-OXIDE
High-precision determination of lattice constants and structural characterization of InN thin films
期刊论文
journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
Wu MF
;
Zhou SQ
;
Vantomme A
;
Huang Y
;
Wang H
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2010/04/11
X-RAY-DIFFRACTION
BAND-GAP
EPITAXIAL LAYERS
INDIUM NITRIDE
HEXAGONAL INN
CUBIC INN
GROWTH
PARAMETERS
INGAN
PHASE
Calculation of propagation loss in photonic crystal waveguides by fdtd technique and pade approximation
期刊论文
Optics communications, 2005, 卷号: 248, 期号: 4-6, 页码: 309-315
作者:
Chen, Q
;
Huang, YZ
;
Guo, WH
;
Yu, LJ
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/05/12
Photonic crystal waveguides
Propagation loss
Fdtd technique
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