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新疆理化技术研究所 [10]
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专题:新疆理化技术研究所
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Radiation Effects and Mechanisms on Switching Characteristics of Silicon Carbide Power MOSFETs
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 9, 页码: 1423-1429
作者:
Feng, HN (Feng, Haonan) [1] , [2] , [3]
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2022/03/24
SiC Power MOSFETs
Switching Characteristics
Total Ionizing Dose (TID) Effect
Static Characteristic
Parasitic Capacitance
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:
郑齐文
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2015/06/15
大规模集成电路
总剂量辐射
静态随机存储器
损伤机制
试验方法
典型运放、比较器的电离和位移损伤的研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:
姜柯
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浏览/下载:86/0
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提交时间:2015/06/15
60Coγ辐照源
质子辐射
电子辐射
中子辐射
双极器件
辐射效应
SiGe HBT单粒子效应敏感区域分布与加固设计研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:
李培
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浏览/下载:61/0
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提交时间:2015/06/15
不同结构SiGe HBT
单粒子效应
三维数值模拟仿真
激光微束试验
伪集电极加固
3-D simulation of angled strike heavy-ion induced charge collection in silicon- germanium heterojunction bipolar transistors
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 4
作者:
Jinxin, Zhang
;
Hongxia, Guo
;
Lin, Wen
;
Qi, Guo
;
Jiangwei, Cui
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2014/11/11
SiGe HBT单粒子效应损伤机理研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:
张晋新
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浏览/下载:126/0
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提交时间:2013/06/03
锗硅异质结双极晶体管
单粒子效应
三维数值仿真
激光微束试验
电荷收集
敏感区域定位
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:
席善斌
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2013/05/31
低剂量率辐射损伤增强效应
栅控晶体管
电荷分离
损伤机理
竞争模型
research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: -
作者:
Li Ming
;
Yu Xue-Feng
;
Xue Yao-Guo
;
Lu Jian
;
Cui Jiang-Wei
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2012/11/29
partial-depletion-silicon-on insulator
static random access memory
total-dose effects
power supply current
国产PD CMOS/SOI器件和电路的辐照损伤效应及机理研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2008
作者:
王改丽
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2014/10/13
PDSOI
SIMOX
总剂量辐射
辐射效应
背沟漏电
MOS结构热载子注入与总剂量辐照响应的相关性
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 10, 页码: 1975-1978
作者:
余学峰
;
任迪远
;
艾尔肯
;
张国强
;
陆妩
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2012/11/29
热载子注入
总剂量辐照
相关性
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