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科研机构
新疆理化技术研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [5]
学位论文 [1]
发表日期
2014 [1]
2012 [1]
2011 [2]
2010 [1]
2009 [1]
学科主题
Physics [1]
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微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射损伤机理及评估方法研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
作者:
丛忠超
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2014/09/02
SRAM
测试系统
辐照偏置
静态功耗电流
失效模式
Total dose ionizing irradiation effects on a static random access memory field programmable gate array
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3
作者:
Gao, Bo
;
Yu, Xuefeng
;
Ren, Diyuan
;
Li, Yudong
;
Sun, Jing
收藏
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浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2014/11/11
静态存储器型现场可编程门阵列总剂量辐射损伤效应研究
期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: 442-447
作者:
高博
;
余学峰
;
任迪远
;
李豫东
;
崔江维
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2012/11/29
60Coγ
总剂量辐射损伤效应
SRAM型FPGA
CMOS单元
Research on the total-dose irradiation damage effect for static random access memory-based field programmable gate array
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 3
作者:
Gao Bo
;
Yu Xue-Feng
;
Ren Di-Yuan
;
Li Yu-Dong
;
Cui Jiang-Wei
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2012/11/29
(60)Co gamma
total-dose irradiation damage effects
SRAM-based FPGA
CMOS cell
Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应
期刊论文
强激光与粒子束, 2010, 卷号: 22, 期号: 11, 页码: 2724-2728
作者:
高博
;
余学峰
;
任迪远
;
王义元
;
李豫东
收藏
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浏览/下载:23/0
  |  
提交时间:2012/11/29
SRAM型FPGA
60Coγ
总剂量辐射损伤效应
退火效应
Altera SRAM型现场可编程门阵列总剂量辐射效应
期刊论文
原子能科学技术, 2009, 卷号: 43, 期号: 12, 页码: 1128-1132
作者:
高博
;
余学峰
;
任迪远
;
王义元
;
李鹏伟
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2012/11/29
SRAM型现场可编程门阵列
60Coγ源
总剂量效应
辐射
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