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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：数学与系统科学研究院    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Poisson kernel and Cauchy formula of a non-symmetric transitive domain 期刊论文 SCIENCE CHINA-MATHEMATICS, 2010, 卷号: 53, 期号: 7, 页码: 1679-1684 作者:  Lu Qi-Keng 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2018/07/30 Poisson kernel  Cauchy formula   Dynamic Stress Intensity Factors of Mode I Crack Problem for Functionally Graded Layered Structures 期刊论文 CMES-COMPUTER MODELING IN ENGINEERING & SCIENCES, 2010, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 43-84 作者:  Ding, Sheng-Hu;  Li, Xing;  Zhou, Yue-Ting 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2018/07/30 Functionally graded layered structures  Collinear cracks  Singular integral equation  Dynamic stress intensity factor   Transient analysis of an M/G/1 retrial queue subject to disasters and server failures 期刊论文 EUROPEAN JOURNAL OF OPERATIONAL RESEARCH, 2008, 卷号: 189, 期号: 3, 页码: 1118-1132 作者:  Wang, Jinting;  Liu, Bin;  Li, Jianghua 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2018/07/30 retrial queues  disasters  reliability  transient analysis  Laplace transforms  numerical inversion   Two types of RG-factorizations of quasi-birth-and-death processes and their applications to stochastic integral functionals 期刊论文 STOCHASTIC MODELS, 2004, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 299-340 作者:  Li, QL;  Cao, JH 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2018/07/30 level-dependent QBD process  R-measure  G-measure  RG-factorization  linear QBD-equation  stochastic integral functional   explicitexpressionsfortheruinprobabilitiesoferlangriskprocesseswithparetoindividualclaimdistributions 期刊论文 actamathematicaeapplicataesinica, 2004, 卷号: 020, 期号: 003, 页码: 495 作者:  Wei Li;  Yang Hailiang 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2020/01/10 Explicit　Expressions　for　the　Ruin　Probabilities　of　Erlang　Risk　Processes　with　Pareto　Individual　Claim　Distributions 期刊论文 应用数学学报：英文版, 2004, 卷号: 20.0, 期号: 003, 页码: 495-506 作者:  Wei Li;  Yang Hailiang 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2021/01/14 破产可能性  Erlang解法  排列分布  拉普拉斯变换  康托集  实变函数   LIMITING DISTRIBUTIONS OF THE RESIDUAL LIFETIMES OF SEVERAL REPAIRABLE SYSTEMS 期刊论文 MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1993, 卷号: 33, 期号: 8, 页码: 1069-1072 作者:  LI, W;  CAO, JH 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2018/07/30