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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Atomic hydrogen induced defect kinetics in amorphous silicon 期刊论文 JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A, 2017 Peeters, Floran J. J.; Zheng, Jie; Aarts, Igor M. P.; Pipino, Andrew C. R.; Kessels, Wilhelmus M. M.; van de Sanden, Mauritius C. M. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 A-SI-H  HOT-WIRE DEPOSITION  TIME SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY  CAVITY RINGDOWN SPECTROSCOPY  MICROCRYSTALLINE SILICON  THIN-FILMS  INFRARED-SPECTROSCOPY  SI(100) SURFACES  DANGLING BONDS  CRYSTALLINE SILICON   Preparation and characterization of p-type semiconducting tin oxide thin film gas sensors 期刊论文 应用物理杂志, 2010 Liu, Xiaodi; Zhang, Dacheng; Zhang, Yang; Dai, Xiaotao 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 atomic force microscopy  calcination  ellipsometry  gas sensors  nanosensors  scanning electron microscopy  semiconductor thin films  sputter deposition  tin compounds  X-ray diffraction  SENSITIVITY  TEMPERATURE