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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A NOVEL APPROACH TO BUILDING COLLAPSE DETECTION FROM POST-SEISMIC POLARIMETRIC SAR IMAGERY BY USING OPTIMIZATION OF POLARIMETRIC CONTRAST ENHANCEMENT 其他 2015-01-01 Zhang, Haizhen; Wang, Qing; Zeng, Qiming; Jiao, Jian 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 Radar polarimetry  OPCE  Building collapse  earthquake   Beijiang water body information extraction based on ENVISAT-ASAR 其他 2012-01-01 Tian, Yuan; Chen, Xiuwan; Luo, Peng; Xu, Yubin 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/17 Differential interferometry with Envisat ASAR AP mode data 其他 2010-01-01 Zhou, Xiao; Zeng, Qiming; Liang, Cunren; Cui, Xiai; Jiao, Jian 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/13 Interferometry with Envisat ASAR alternating polarization mode data 其他 2010-01-01 Zhou, Xiao; Zeng, Qiming; Liang, Cunren; Cui, Xiai; Jiao, Jian 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 BURST MODE TO STRIP-MAP MODE SAR INTERFEROMETRY OF ALOS PALSAR 其他 2010-01-01 Liang, Cunren; Zeng, Qiming; Cui, Xiai; Jiao, Jian 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 burst  interferometry  PALSAR  ScanSAR  strip-map   Multi-mode SAR Interferometry Processing Research and Implementation 其他 2010-01-01 Liang, Cunren; Zeng, Qiming; Jia, Jianying; Zhou, Xiao; Jiao, Jian; Cui, Xi' ai 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 SCANSAR  MODE   Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface-Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Jinyan Wang; Yilong Hao; Yaohui Zhang; Tang 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain  nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain   Transient Leakage Current Technique for MIS HEMT(Al2O3/AlGaN/GaN)Dielectric Semiconductor Interface Property Characterization 其他 2008-01-01 Jinyan Wang; Hongwei Chen 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 AlGaN  transistor  ferroelectric  instance  junction  leakage  Schottky  irreversible  drain  collapse  AlGaN  transistor  ferroelectric  instance  junction  leakage  Schottky  irreversible  drain  collapse