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科研机构
北京大学 [73]
厦门大学 [2]
内容类型
其他 [75]
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2016 [4]
2015 [16]
2014 [10]
2013 [8]
2012 [8]
2011 [2]
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Reliability variability simulation methodology for IC design: An EDA perspective
其他
2016-01-01
Zhang, Aixi
;
Huang, Chunyi
;
Guo, Tianlei
;
Chen, Alvin
;
Guo, Shaofeng
;
Wang, Runsheng
;
Huang, Ru
;
Xie, Jushan
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
PDS: Pseudo-Differential Sensing Scheme for STT-MRAM
其他
2016-01-01
Kang, Wang
;
Pang, Tingting
;
Wu, Bi
;
Lv, Weifeng
;
Zhang, Youguang
;
Sung, Guanyu
;
Zhao, Weisheng
收藏
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浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2017/12/03
STT-MRAM
Asymmetric sensing
Reliability
Write power
Error detection and correction
CIRCUIT
MEMORY
TECHNOLOGY
ENERGY
MODEL
A 0.32uW Physically Unclonable Fuction with BER < 1.18E-5 Using Current Starved Inverters
其他
2016-01-01
Lyu, Yinxuan
;
Feng, Jianhua
;
Ye, Hongfei
;
He, Chunhua
;
Yu, Dunshan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
Characterization of Self-heating Leads to Universal Scaling of HCI Degradation of Multi-Fin SOI FinFETs
其他
2016-01-01
Jiang, Hai
;
Shin, SangHoon
;
Liu, Xiaoyan
;
Zhang, Xing
;
Alam, Muhammad Ashraful
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Self-heating
Hot carrier injection
Thermal circuit model
universal degradation
Gate-all-around transistors
HOT-CARRIER DEGRADATION
SHORT-CHANNEL TRANSISTORS
TRANSPORT
MOSFETS
DEVICES
NBTI
Variation-aware energy-delay optimization method for device/circuit co-design
其他
2015-01-01
Wang, Junyao
;
Jiang, Xiaobo
;
Wang, Xingsheng
;
Wang, Runsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Wei, Lan
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Impact of Temporal Transistor Variations on Circuit Reliability
其他
2015-01-01
Wang, Runsheng
;
Cao, Yu
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
circuit reliability
temporal variation
bias temperature instability (BTI)
random telegraph noise (RTN)
Design of an auto-removing mechanism based on a PLC control system
其他
2015-01-01
Zhang, Xinrui
;
Ju, Hui
;
Guo, Dequan
;
Liu, Richen
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
New insights into the design for end-of-life variability of NBTI in scaled high-��/metal-gate Technology for the nano-reliability era
其他
2015-01-01
Ren, Pengpeng
;
Wang, Runsheng
;
Ji, Zhigang
;
Hao, Peng
;
Jiang, Xiaobo
;
Guo, Shaofeng
;
Luo, Mulong
;
Duan, Meng
;
Zhang, Jian F.
;
Wang, Jianping
;
Liu, Jinhua
;
Bu, Weihai
;
Wu, Jingang
;
Wong, Waisum
;
Yu, Shaofeng
;
Wu, Hanming
;
Lee, Shiuh-Wuu
;
Xu, Nuo
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/03
Understanding NBTI-induced dynamic variability in the nano-reliability Era: From devices to circuits
其他
2015-01-01
Wang, Runsheng
;
Ren, Pengpeng
;
Liu, Changze
;
Guo, Shaofeng
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
Variation-aware, reliability-emphasized design and optimization of RRAM using SPICE model
其他
2015-01-01
Li, H.
;
Jiang, Z.
;
Huang, P.
;
Wu, Y.
;
Chen, H.-Y.
;
Gao, B.
;
Liu, X.Y.
;
Kang, J.F.
;
Wong, H.-S.P.
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提交时间:2017/12/03
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