×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [4]
内容类型
其他 [4]
发表日期
2013 [1]
2009 [1]
2007 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
内容类型:其他
专题:北京大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Non-contact capacitance sensing for continuous locomotion mode recognition: Design specifications and experiments with an amputee
其他
2013-01-01
Zheng, Enhao
;
Wang, Long
;
Luo, Yimin
;
Wei, Kunlin
;
Wang, Qining
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Parameter Characterization of Anodic Bonded Electrical Interconnect in MEMS/NEMS devices
其他
2009-01-01
Fan, Xuejiao
;
Zhang, Dacheng
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2015/11/10
anodic bonding
bonded vertical Kelvin method
contact resistance
electrical interconnect
CONTACT RESISTANCE
WAFER
SILICON
Boundary conditions for the moving contact line problem
其他
2007-01-01
Ren, Weiqing
;
E, Weinan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/12
FLUID INTERFACE
SOLID-SURFACES
MOLECULAR-DYNAMICS
FLOW
DISPLACEMENT
LIQUIDS
MOTION
ANGLES
MODEL
SLIP
Role of interface layers and localized states in TiAl-based ohmic contacts to p-type 4H-SiC
其他
2007-01-01
Gao, M.
;
Tsukimoto, S.
;
Goss, S. H.
;
Tumakha, S. P.
;
Onishi, T.
;
Murakami, M.
;
Brillson, L. J.
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/10
ohmic contact
p-type 4H-SiC
work function
Ti3SiC2
interface
localized states
ELECTRICAL-PROPERTIES
SILICON-CARBIDE
AL/TI CONTACTS
IMPLANTATION
MECHANISM
TI3SIC2
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace