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The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs 其他
2010-01-01
Wang, Jian; Wang, Wenhua; Huang, Detao; Xue, Shoubin; Wang, Sihao; Liu, Wen; Huang, Ru
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2015/11/13
Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他
2008-01-01
Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang
收藏  |  浏览/下载:3/0  |  提交时间:2015/11/10
Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface-Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他
2008-01-01
Jinyan Wang; Yilong Hao; Yaohui Zhang; Tang
收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2017/12/03
Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他
2008-01-01
Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang
收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2015/11/13
对体系局部进行高精度量子化学计算的研究 其他
2002-01-01
莫依; 黎乐民
收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2015/10/24
一种对大体系局部进行高精度量子化学计算的新方法 其他
2002-01-01
莫依; 王繁; 黎乐民
收藏  |  浏览/下载:3/0  |  提交时间:2015/10/24


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