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| The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs 其他 2010-01-01 Wang, Jian; Wang, Wenhua; Huang, Detao; Xue, Shoubin; Wang, Sihao; Liu, Wen; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2015/11/13
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| Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载:3/0  |  提交时间:2015/11/10 |
| Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface-Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Jinyan Wang; Yilong Hao; Yaohui Zhang; Tang 收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2017/12/03
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| Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2015/11/13 |
| 对体系局部进行高精度量子化学计算的研究 其他 2002-01-01 莫依; 黎乐民 收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2015/10/24
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| 一种对大体系局部进行高精度量子化学计算的新方法 其他 2002-01-01 莫依; 王繁; 黎乐民 收藏  |  浏览/下载:3/0  |  提交时间:2015/10/24
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