×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [6]
内容类型
会议论文 [6]
发表日期
2004 [1]
2002 [1]
2001 [2]
2000 [1]
1999 [1]
学科主题
半导体材料 [5]
半导体物理 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
帮助
限定条件
内容类型:会议论文
专题:半导体研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Raman scattering study on diluted magnetic semiconductor Ga1-xMnxAs prepared by Mn-ion implantation
会议论文
13th international conference on semiconducting and insulating materials (simc xiii), beijing, peoples r china, sep 20-25, 2004
Islam MR
;
Chen NF
;
Yamada M
收藏
  |  
浏览/下载:130/33
  |  
提交时间:2010/03/29
Strong red light emission from silicon nanocrystals embedded in SIO2 matrix
会议论文
conference on optoelectronic and microelectronic materials and devices (commad), sydney, australia, dec 11-13, 2002
Chen WD
;
Wang YQ
;
Chen CY
;
Diao HW
;
Liao XB
;
Kong GL
;
Hsu CC
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2010/10/29
PHOTOLUMINESCENCE
LUMINESCENCE
SPECTROSCOPY
DEPOSITION
Observation of the resonant Raman behavior of individual single-walled carbon nanotubes
会议论文
25th international conference on the physics of semiconductors (icps25), osaka, japan, sep 17-22, 2000
作者:
Tan PH
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2010/10/29
ELECTRIC-ARC TECHNIQUE
LARGE-SCALE
SCATTERING
SPECTRA
STOKES
MODES
Structural evaluation of polycrystalline silicon thin films by hot-wire-assisted PECVD
会议论文
1st international conference on cat-cvd (hot wire cvd) process, kanazawa, japan, nov 14-17, 2000
Feng Y
;
Zhu M
;
Liu F
;
Liu J
;
Han H
;
Han Y
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2010/11/15
poly-Si
structure
hot-wire
plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD)
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
MICROCRYSTALLINE SILICON
HYDROGEN
Raman study on residual strains in thin 3C-SiC epitaxial layers grown on Si(001)
会议论文
1st asian conference on chemical vapour deposition, shanghai, peoples r china, may 10-13, 1999
Zhu JJ
;
Liu SY
;
Liang JW
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2010/11/15
Raman spectrum
thin film
chemical vapor deposition
SCATTERING
SI
Effect of rapid thermal annealing on the Raman spectrum of Si0.33Ge0.67/Si (100) alloy
会议论文
9th international symposium on nondestructive characterization of materials, sydney, australia, jun 28-jul 02, 1999
Liu JP
;
Kong MY
;
Huang DD
;
Li JP
;
Sun DZ
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2010/10/29
STRAIN-SHIFT COEFFICIENTS
SI1-XGEX
SILICON
PHONONS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace