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科研机构
光电技术研究所 [4]
内容类型
会议论文 [4]
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2017 [1]
2013 [1]
2010 [2]
学科主题
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内容类型:会议论文
专题:光电技术研究所
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Characterization of surface defects of silicon substrates by the total scattering and absorption
会议论文
作者:
Zhang, Kepeng
;
Zhang, Xingxin
;
Huang, Wei
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2018/12/20
Absorption - Atomic force microscopy - Brillouin scattering - Light scattering - Microscopes - Optical systems - Photonics - Reflection - Silicon - Substrates - Surface roughness - Surface scattering
Error analysis for aspheric surface testing system
会议论文
Proceedings of SPIE: International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2013: Micro/Nano Optical Imaging Technologies and Applications, 2013
作者:
Feng, Jie
;
Deng, Chao
;
Xing, Tingwen
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2016/11/23
Determination the optical constants of hafnium oxide film by Spectroscopic ellipsometry with various dispersion models
会议论文
Proceedings of the SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2010
作者:
Weidong Gao
;
Yinhua Zhang
;
Hongxiang Liu
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2016/11/25
Joining of silicon carbide ceramic for optical application by reaction bonded technology
会议论文
Proceedings of the SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2010
作者:
Aifang Zhang
;
Yichao Chen
;
Zhiqiang Chen
;
Hong Liu
;
Jingzhong Fang
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2016/11/25
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