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科研机构
光电技术研究所 [2]
内容类型
会议论文 [2]
发表日期
2013 [1]
2012 [1]
学科主题
Power spec... [1]
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内容类型:会议论文
专题:光电技术研究所
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Comparative analysis of absolute methods to test rotationally asymmetric surface deviation
会议论文
Proceedings of SPIE: Modeling Aspects in Optical Metrology IV, 2014, 2013
作者:
Song, Weihong
;
Hou, Xi
;
Wu, Fan
;
Zhao, Wenchuan
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提交时间:2016/11/24
Comparative analysis of three-position measurement technology and multi-positions average measurement technology
会议论文
Proceedings of SPIE: 6th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Advanced Optical Manufacturing Technologies, 2012
作者:
Yang, Peng
;
Wu, Fan
;
Hou, Xi
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提交时间:2016/11/24
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