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Structure of VCSEL and method for manufacturing the same 专利
专利号: US9929536, 申请日期: 2018-03-27, 公开日期: 2018-03-27
作者:  LIN, BING-CHENG;  CHEN, CHIH CHENG;  TSENG, HUNG-WEI
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Strain compensation in transistors 专利
专利号: US9818884, 申请日期: 2017-11-14, 公开日期: 2017-11-14
作者:  LE, VAN H.;  CHU-KUNG, BENJAMIN;  KAVALIEROS, JACK T.;  PILLARISETTY, RAVI;  RACHMADY, WILLY
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基于机器视觉的铝型材表面缺陷检测方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104458748B, 申请日期: 2015-03-25, 公开日期: 2017-02-08
作者:  周晓锋;  张宜弛;  吴阳;  史海波
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基于机器视觉的铝型材表面缺陷实时检测系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104458749A, 申请日期: 2015-03-25,
作者:  潘福成;  张宜弛;  周晓锋;  吴阳;  史海波
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基于机器视觉的铝型材表面缺陷检测方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104458748A, 申请日期: 2015-03-25, 公开日期: 2017-02-08
作者:  周晓锋;  张宜弛;  吴阳;  史海波
收藏  |  浏览/下载：198/0  |  提交时间：2015/06/30
Epitaxial growth of crystalline material 专利
专利号: US8822248, 申请日期: 2014-09-02, 公开日期: 2014-09-02
作者:  PARK, JI-SOO
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Manufacturing apparatus and manufacturing method for quantum dot material 专利
专利号: EP2741315A1, 申请日期: 2014-06-11, 公开日期: 2014-06-11
作者:  PENG, CHANGSI
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Nitride semiconductor structure 专利
专利号: US8652918, 申请日期: 2014-02-18, 公开日期: 2014-02-18
作者:  STRITTMATTER, ANDRE
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Method of fabrication of a micro-optics device with curved surface defects 专利
专利号: GB2500670A, 申请日期: 2013-10-02, 公开日期: 2013-10-02
作者:  ARMIN W KNOLL;  URS T DUERIG;  FEI DING;  THILO HERMANN STOEFERLE;  RAINER F MAHRT
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Semi-polar nitride-based light emitting structure and method of forming same 专利
专利号: US8330144, 申请日期: 2012-12-11, 公开日期: 2012-12-11
作者:  STRITTMATTER, ANDRE;  JOHNSON, NOBLE M.;  TEEPE, MARK;  CHUA, CHRISTOPHER L.;  YANG, ZHIHONG
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