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一种基于超声AFM的纳米薄膜厚度检测装置及其方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN107192857A, 申请日期: 2017-09-22,
作者:  刘连庆;  李广勇;  于鹏;  施佳林
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Semiconductor laser array 专利
专利号: JP1985242686A, 申请日期: 1985-12-02, 公开日期: 1985-12-02
作者:  UCHIDA TEIJI;  KOBAYASHI ISAO
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Semiconductor laser device and manufacture thereof 专利
专利号: JP1985113486A, 申请日期: 1985-06-19, 公开日期: 1985-06-19
作者:  SAGARA MINORU
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Semiconductor laser element 专利
专利号: JP1983115878A, 申请日期: 1983-07-09, 公开日期: 1983-07-09
作者:  MAMINE TAKAYOSHI
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Template type substrate and a method of preparing the same 专利
专利号: US20060057749A1, 公开日期: 2006-03-16
作者:  DWILINSKI, ROBERT;  DORADZINSKI, ROMAN;  GARCZYNSKI, JERZY;  SIERZPUTOWSKI, LESZEK;  KANBARA, YASUO
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