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科研机构
西安光学精密机械研究... [3]
内容类型
专利 [3]
发表日期
2008 [1]
2004 [2]
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Method of photo-reflectance characterization of strain and active dopant in semiconductor structures
专利
专利号: EP1952122A2, 申请日期: 2008-08-06, 公开日期: 2008-08-06
作者:
CHISM, WILLIAM, W
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提交时间:2019/12/31
Method for characterizing tunable lasers
专利
专利号: US20040174915A1, 申请日期: 2004-09-09, 公开日期: 2004-09-09
作者:
SARLET, GERT
;
SZABO, PETER
;
ORBERT, CURT
;
NYMAN, TORBJORN
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/12/31
Auto-characterization of optical devices
专利
专利号: WO2004011897A1, 申请日期: 2004-02-05, 公开日期: 2004-02-05
作者:
DIETZ, PAUL, B.
;
RIBARIC, ZELJKO
;
MIKOLAJEK, KENNETH, C.
;
JAY, PAUL, R.
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提交时间:2019/12/31
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