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ATOMIC FORCE MICROSCOPE BASED MEASUREMENT METHOD AND DEVICE FOR RAPID IN-SITU SWITCHING OF INTEGRATED DOUBLE PROBE 专利
申请日期: 2022-03-24,
作者:  Liu LQ(刘连庆);  Shi JL(施佳林);  Yu P(于鹏)
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Particle field imaging and characterization using vcsel lasers for convergent multi-beam illumination 专利
专利号: WO2019209866A1, 申请日期: 2019-10-31, 公开日期: 2019-10-31
作者:  BACHALO, WILLIAM D.;  PAYNE, GREGORY A.;  IBRAHIM, KHALID;  FIDRICH, MICHAEL J.;  MANIN, JULIEN
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Self-Mixing Interference Based Sensors for Characterizing Touch Input 专利
专利号: US20190317639A1, 申请日期: 2019-10-17, 公开日期: 2019-10-17
作者:  WINKLER, MARK T.;  MUTLU, MEHMET;  MOMTAHAN, OMID;  CHEN, TONG;  CAI, WENRUI
收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2019/12/31
Continuous diode laser stimulated Raman gain/loss vibrational microscope 专利
专利号: US10433731, 申请日期: 2019-10-08, 公开日期: 2019-10-08
作者:  ALFANO, ROBERT R.;  SHI, LINGYAN;  BUDANSKY, YURY
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Tdlas architecture for widely spaced wavelength 专利
专利号: US20190293553A1, 申请日期: 2019-09-26, 公开日期: 2019-09-26
作者:  SAPPEY, ANDREW D.;  MASTERSON, BERNARD PATRICK
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Multi kW Class Blue Laser System 专利
专利号: US20190273365A1, 申请日期: 2019-09-05, 公开日期: 2019-09-05
作者:  ZEDIKER, MARK;  FIVE, JEAN PHILIPPE;  SE, MATTHEW SILVA;  JANSEN, MICHAEL
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Laser polycrystallization apparatus 专利
专利号: US10403499, 申请日期: 2019-09-03, 公开日期: 2019-09-03
作者:  ASLANOV, EMIL;  RYU, JEKIL;  LEE, HAESOOK;  HAN, GYOOWAN
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Laser systems and optical devices for manipulating laser beams 专利
专利号: US10401617, 申请日期: 2019-09-03, 公开日期: 2019-09-03
作者:  HARGIS, DAVID E.;  O'SHAUGHNESSY, JOHN
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Emitter array that includes inhomogeneous emitter distribution to flatten a beam profile of the emitter array 专利
专利号: US20190267778A1, 申请日期: 2019-08-29, 公开日期: 2019-08-29
作者:  LOU, XIAOHUA;  ZHOU, DELAI;  DJIE, HERY
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複数のレーザモジュールを備えたレーザ装置 专利
专利号: JP6568136B2, 申请日期: 2019-08-09, 公开日期: 2019-08-28
作者:  宮田 龍介;  瀧川 宏
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