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| METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SIMULTANEOUS AND INDEPENDENT MOTION OF MULTIPROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE 专利 申请日期: 2022-03-24, 作者: Liu LQ(刘连庆); Shi JL(施佳林); Yu P(于鹏)
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| ATOMIC FORCE MICROSCOPE BASED MEASUREMENT METHOD AND DEVICE FOR RAPID IN-SITU SWITCHING OF INTEGRATED DOUBLE PROBE 专利 申请日期: 2022-03-24, 作者: Liu LQ(刘连庆); Shi JL(施佳林); Yu P(于鹏)
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| 基于原子力显微镜技术的峰值力轻敲与扭转共振复合方法 专利 申请日期: 2020-02-07, 公开日期: 2021-04-13 作者: 刘连庆; 施佳林; 于鹏
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| 基于原子力显微镜技术的峰值力轻敲与扭转共振复合方法 专利 申请日期: 2020-02-07, 公开日期: 2021-04-13 作者: 刘连庆; 施佳林; 于鹏
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| Continuous diode laser stimulated Raman gain/loss vibrational microscope 专利 专利号: US10433731, 申请日期: 2019-10-08, 公开日期: 2019-10-08 作者: ALFANO, ROBERT R.; SHI, LINGYAN; BUDANSKY, YURY
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| 一种基于超声AFM闭环系统的可控深度表面缺陷加工方法 专利 申请日期: 2019-08-16, 公开日期: 2021-05-25 作者: 刘连庆; 李萌; 施佳林; 于鹏; 刘志华
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| 一种基于超声AFM闭环系统的可控深度表面缺陷加工方法 专利 申请日期: 2019-08-16, 公开日期: 2021-05-25 作者: 刘连庆; 李萌; 施佳林; 于鹏; 刘志华
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| 一种基于二维反馈控制的AFM三维测量方法 专利 申请日期: 2019-07-30, 公开日期: 2021-08-10 作者: 刘连庆; 于鹏; 刘柱; 吴森; 杨洋
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| 一种基于二维反馈控制的AFM三维测量方法 专利 申请日期: 2019-07-30, 公开日期: 2021-08-10 作者: 刘连庆; 于鹏; 刘柱; 吴森; 杨洋
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| Method and apparatus for infrared scanning near-field optical microscopy based on photothermal effect 专利 专利号: WO2018165591A1, 申请日期: 2018-09-13, 公开日期: 2018-09-13 作者: YANG, HONGHUA; PRATER, CRAIG
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