CORC

在结果中检索

CORC

浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Mult-wavelength pulsed optical test instrument 专利
专利号: US20190277724A1, 申请日期: 2019-09-12, 公开日期: 2019-09-12
作者:  ADAMS, ROBERT MATTHEW;  PHILIPSON, JOSHUA;  WAGNER, CHRIS;  TESSARO, GRANT
收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2019/12/31
Referencing insertion loss using back-facet monitor from lasers 专利
专利号: US20190280457A1, 申请日期: 2019-09-12, 公开日期: 2019-09-12
作者:  ADAMS, ROBERT MATTHEW;  PHILIPSON, JOSHUA;  BRUCE, DARREN
收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/12/31
Intra-chip power and test signal generation for use with test structures on wafers 专利
专利号: US7605597, 申请日期: 2009-10-20, 公开日期: 2009-10-20
作者:  AGHABABAZADEH, MAJID;  ESTABIL, JOSE J.;  PAKDAMAN, NADER;  STEINBRUECK, GARY L.;  VICKERS, JAMES S.
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/23
Method and apparatus for digital signal processing enhanced laser performance compensation 专利
专利号: US20050249252A1, 申请日期: 2005-11-10, 公开日期: 2005-11-10
作者:  SANCHEZ, JORGE
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/31
Automated laser diode test system 专利
专利号: US20020186744A1, 申请日期: 2002-12-12, 公开日期: 2002-12-12
作者:  CORNELIUS, PAUL;  WALSH, JOHN;  YIM, YONG
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/30
Method for design and development of a semiconductor laser device 专利
专利号: US6248604, 申请日期: 2001-06-19, 公开日期: 2001-06-19
作者:  ENG, JULIE S.;  FREUND, JOSEPH MICHAEL;  PRZYBYLEK, GEORGE JOHN;  ROMERO, DENNIS MARK;  SERGENT, ARTHUR MIKE
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/23
Semiconductor wafer testing method and apparatus 专利
专利号: US5891746, 申请日期: 1999-04-06, 公开日期: 1999-04-06
作者:  KUCHTA, DANIEL M.
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/26
Methods for measuring laser performance in laser printers 专利
专利号: EP0529531A2, 申请日期: 1993-03-03, 公开日期: 1993-03-03
作者:  SANGER, KURT MICHAEL, C/O EASTMAN KODAK COMPANY
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/31
Laser recording device 专利
专利号: JP1988102545A, 申请日期: 1988-05-07, 公开日期: 1988-05-07
作者:  OHARA YUJI;  SHIYOUJI TAKASHI
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2020/01/13

©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace