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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
会议论文 [4]
发表日期
2005 [1]
2003 [1]
1998 [2]
学科主题
半导体物理 [4]
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学科主题:半导体物理
内容类型:会议论文
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Improvement of the electrical property of semi-insulating InP by suppression of compensation defects
会议论文
17th international conference on indium phosphide and related materials, glasgow, scotland, may 08-12, 2005
Zhao, YW
;
Dong, ZY
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浏览/下载:220/68
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提交时间:2010/03/29
ENCAPSULATED CZOCHRALSKI INP
SEMICONDUCTOR COMPOUND-CRYSTALS
STIMULATED CURRENT SPECTROSCOPY
CURRENT TRANSIENT SPECTROSCOPY
DEEP-LEVEL DEFECTS
ANNEALING AMBIENT
POINT-DEFECTS
FE
PHOSPHIDE
DONORS
Low-frequency noise properties of GaN Schottky barriers deposited on intermediate temperature buffer layers
会议论文
1st international symposium on point defect and stoichiometry, sendai, japan, mar 20-22, 2003
Leung BH
;
Fong WK
;
Surya C
;
Lu LW
;
Ge WK
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2010/10/29
GaN
low-frequency noise
deep levels
deep level transient Fourier spectroscopy
DEVICES
Characterization of GaSb substrate wafers for MOCVD III-V antimonides
会议论文
7th international conference on defect recognition and image processing in semiconductors (drip-vii), templin, germany, sep 07-10, 1997
Peng RW
;
Ding YQ
;
Xu CM
;
Wang XG
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2010/11/15
VAPOR-PHASE EPITAXY
GROWTH
Observation of defects in GaN epilayers
会议论文
7th international conference on defect recognition and image processing in semiconductors (drip-vii), templin, germany, sep 07-10, 1997
Kang JY
;
Liu XL
;
Ogawa T
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2010/11/15
SCATTERING
SAPPHIRE
GROWTH
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