×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2003 [1]
1999 [1]
学科主题
半导体材料 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
限定条件
学科主题:半导体材料
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Microstructure characterization of transition films from amorphous to nanocrocrystalline silicon
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 256, 期号: 1-2, 页码: 27-32
Xu YY
;
Liao XB
;
Kong GL
;
Zeng XB
;
Hu ZH
;
Diao HW
;
Zhang SB
收藏
  |  
浏览/下载:56/0
  |  
提交时间:2010/08/12
nanostructures
growth from vapor
chemical vapor deposition processes
semiconducting silicon
A-SI-H
MICROCRYSTALLINE SILICON
EXCITATION-FREQUENCY
HYDROGENATED SILICON
DEPOSITION
PLASMA
TEMPERATURE
Structural characterization of InGaAs/GaAs quantum dots superlattice infrared photodetector structures
期刊论文
journal of crystal growth, 1999, 卷号: 200, 期号: 3-4, 页码: 375-381
Zhuang QD
;
Li JM
;
Zeng YP
;
Pan L
;
Li HX
;
Kong MY
;
Lin LY
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2010/08/12
InGaAs/GaAs
quantum dots
superlattice
structure
TEM
X-ray
ISLANDS
GROWTH
GAAS
MULTILAYERS
SURFACES
X-RAY-DIFFRACTION
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace