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科研机构
半导体研究所 [7]
内容类型
会议论文 [7]
发表日期
2008 [2]
2007 [1]
2000 [1]
1998 [3]
学科主题
光电子学 [7]
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学科主题:光电子学
内容类型:会议论文
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Single dipole mode photonic crystal laser on InGaAsP/InP QW waveguide slab - art. no. 698436
会议论文
6th international conference on thin film physics and applications, shanghai, peoples r china, sep 25-28, 2007
Zheng WH
;
Xing MX
;
Ren G
;
Du XY
;
Wang K
;
Chen LH
收藏
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浏览/下载:31/0
  |  
提交时间:2010/03/09
photonic crystal
High-efficiency GaN-based blue LEDs grown on nano-patterned sapphire substrates for solid-state lighting - art. no. 684103
会议论文
conference on solid state lighting and solar energy technologies, beijing, peoples r china, nov 12-14, 2007
Yan, FW
;
Gao, HY
;
Zhang, Y
;
Li, JM
;
Zeng, YP
;
Wang, GH
;
Yang, FH
收藏
  |  
浏览/下载:134/0
  |  
提交时间:2010/03/09
GaN
MOCVD
LED
nano-pattern
SEM
HRXRD
PL
On the performance analysis and design of a novel shared-layer integrated devices using RCE-p-i-n-PD/SHBT - art. no. 67820J
会议论文
conference on optoelectronic materials and devices ii, wuhan, peoples r china, nov 02-05, 2007
Shou-Li Z
;
De-Ping X
;
Ya-Li I
;
Hai-Lin C
;
Yin-Zhe C
;
Ang M
;
Ji-He L
;
Jun-Hua G
收藏
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浏览/下载:45/0
  |  
提交时间:2010/03/09
RCE- p-i-n-PD
A model of dislocations at the interface of the bonded wafers
会议论文
conference on optical interconnects for telecommunication and data communications, beijing, peoples r china, nov 08-10, 2000
作者:
Han WH
;
Wang LC
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2010/10/29
wafer bonding
heteroepitaxy
lattice mismatch
edge-like dislocations
thermal stress
60 degrees dislocation lines
GAAS
Dynamics of formation of defects in annealed InP
会议论文
conference on integrated optoelectronics ii, beijing, peoples r china, sep 18-19, 1998
Han YJ
;
Liu XL
;
Jiao JH
;
Lin LY
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/10/29
defects formation
hydrogen related defects
semi-insulating
InP
A study on GaP/Si heterostructures grown by GS-MBE
会议论文
conference on integrated optoelectronics ii, beijing, peoples r china, sep 18-19, 1998
Yu JZ
;
Chen BW
;
Yu Z
;
Wang QM
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2010/10/29
GaP/Si heterostructure
GS-MBE
lattice match
X-ray double crystal diffraction
photoluminescence (PL)
Formation mechanism of defects in annealed InP
会议论文
spie conference on optoelectronic materials and devices, taipei, taiwan, jul 09-11, 1998
Han YJ
;
Liu XL
;
Jiao JH
;
Lin LY
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2010/10/29
defects formation
hydrogen related defects
semi-insulating
InP
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