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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2020     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536 作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2021/12/01 Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack   Image fusion based on multiscale transform and sparse representation to enhance terahertz images 期刊论文 OPTICS EXPRESS, 2020, 卷号: 28, 期号: 17, 页码: 25293-25307 作者:  Mao, Qi;  Zhu, Yunlong;  Lv, Cixing;  Lu, Yao;  Yan, Xiaohui 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2020/12/01 Performance evaluation and prediction of the integrated circuit industry in China: A hybrid method 期刊论文 SOCIO-ECONOMIC PLANNING SCIENCES, 2020, 卷号: 69, 页码: 12 作者:  Zhou, Xiaoyang;  Chen, Hao;  Chai, Jian;  Wang, Shouyang;  Lev, Benjamin 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2020/05/24 Dynamic DEA  Projection analysis  Grey model  Integrated circuit industry   TID Response of Bulk Si PMOS FinFETs: Bias, Fin Width, and Orientation Dependence 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 7, 页码: 1320-1325 作者:  Ren, ZX (Ren, Zhexuan)[ 1 ];  An, X (An, Xia)[ 1 ];  Li, GS (Li, Gensong)[ 1 ];  Chen, G (Chen, Gong)[ 1 ];  Li, M (Li, Ming)[ 1 ] 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2020/09/09 Bulk Si FinFET  fin width  orientation  PMOS  threshold voltage shift  total ionizing dose (TID)