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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 发表日期：2020    专题：金属研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Phase Characterization and Formation Behavior in 6 wt% Si High-silicon Austenitic Stainless Steel during Isothermal Aging 期刊论文 ACTA METALLURGICA SINICA-ENGLISH LETTERS, 2020, 页码: 8 作者:  Chen, Sihan;  Liang, Tian;  Zhou, Yangtao;  Xing, Weiwei;  Zheng, Chengwu 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2021/02/02 High-silicon austenitic stainless steel  Precipitates  chi-Phase  Precipitation behavior   Preferential growth of directionally solidified Al2O3/SmAlO3 eutectic ceramics 期刊论文 SCRIPTA MATERIALIA, 2020, 卷号: 187, 页码: 424-427 作者:  Wang, Xu;  Xiang, Wangshuai;  Zhong, Yujie;  Wan, Lei;  Yan, Fuxue 收藏  |  浏览/下载：125/0  |  提交时间：2021/02/02 Al2O3/SmAlO3 eutectic ceramics  Directional solidification  Interfacial structure  HRTEM   Preferential growth of directionally solidified Al2O3/SmAlO3 eutectic ceramics 期刊论文 SCRIPTA MATERIALIA, 2020, 卷号: 187, 页码: 424-427 作者:  Wang, Xu;  Xiang, Wangshuai;  Zhong, Yujie;  Wan, Lei;  Yan, Fuxue 收藏  |  浏览/下载：131/0  |  提交时间：2021/02/02 Al2O3/SmAlO3 eutectic ceramics  Directional solidification  Interfacial structure  HRTEM   Composition dependent mobility and bandgaps in (La0.05BaxSr0.95-x)SnO3 epitaxial films 期刊论文 APPLIED PHYSICS LETTERS, 2020, 卷号: 117, 期号: 7, 页码: 5 作者:  Li, Kaifeng;  Gao, Qiang;  Zhao, Li;  Lv, Kai;  Yin, Lichang 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2021/02/02 Establishing the carrier scattering phase diagram for ZrNiSn-based half-Heusler thermoelectric materials 期刊论文 NATURE COMMUNICATIONS, 2020, 卷号: 11, 期号: 1, 页码: 9 作者:  Ren, Qingyong;  Fu, Chenguang;  Qiu, Qinyi;  Dai, Shengnan;  Liu, Zheyuan 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2021/02/02 High-Resolution X-Ray Diffraction Analysis of Epitaxial Films 期刊论文 ACTA METALLURGICA SINICA, 2020, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 99-111 作者:  Li Changji;  Zou Minjie;  Zhang Lei;  Wang Yuanming;  Wang Sucheng 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2021/02/02 film growth  epitaxial film  high-resolution X-ray diffraction  reciprocal space mapping