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Microstructure characterization of lattice defects induced by As ion implantation in HgCdTe epilayers 会议论文
作者:  Shi CZ;  Lin C;  Wei YF;  Chen L
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Spectroscopic ellipsometric properties of annealed Mn1.95Co0.77Ni0.28O4 thin films 期刊论文
OPTICS LETTERS, 2017, 卷号: 42, 期号: 19
作者:  Zhang F;  Huang ZM
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