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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2017    专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characterization of surface defects of silicon substrates by the total scattering and absorption 会议论文 作者:  Zhang, Kepeng;  Zhang, Xingxin;  Huang, Wei 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2018/12/20 Absorption - Atomic force microscopy - Brillouin scattering - Light scattering - Microscopes - Optical systems - Photonics - Reflection - Silicon - Substrates - Surface roughness - Surface scattering   Measurement and analysis of the surface roughness of Ag film used in plasmonic lithography 期刊论文 Chinese Physics B, 2017, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 016801 作者:  Liang, Gao-Feng;  Jiao, Jiao;  Luo, Xian-Gang;  Zhao, Qing 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/11/20 Atomic force microscopy - Deposition - Lithography - Photolithography - Plasmons - Substrates - Surface roughness