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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Fault Masking Dual Module Redundancy Method for FPGA 会议论文 Vancouver, Canada, 2016-5-15 作者:  Zheng, Meisong;  Wang, Zilong;  Wang, Zilong;  Li, Lijian 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2016/06/27 Fpga  Fault Tolerance  Dual Modular Redundancy   Monte-Carlo prediction of single-event characteristics of 65 nm CMOS SRAM under hundreds of MeV/n heavy-ions in space 会议论文 作者:  Zhang, Zhangang;  Lei, Zhifeng;  En, Yunfei;  Liu, Jie;  IEEE 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/03/27 single event upset  static random access memory  Monte-Carlo  secondary electron  nuclear reaction   Novel Low Cost and Double Node Upset Tolerant Latch Design for Nanoscale CMOS Technology 期刊论文 Proceedings of the Asian Test Symposium, 2016, 页码: 252-256 作者:  Liang,Huaguo;  Xu,Xiaolin;  Fang,Xiangsheng;  Yan,Aibin;  Huang,Zhengfeng 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/04/22 65 NM CMOS  HIGH-PERFORMANCE  SINGLE EVENT  SEU  CIRCUITS  SYSTEMS