×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [3]
武汉大学 [2]
西安交通大学 [1]
高能物理研究所 [1]
暨南大学 [1]
内容类型
期刊论文 [4]
其他 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2016 [8]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共8条,第1-8条
帮助
限定条件
发表日期:2016
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Ultralow reverse leakage current in AlGaN/GaN lateral Schottky barrier diodes grown on bulk GaN substrate
期刊论文
APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2016, 卷号: 9, 期号: [db:dc_citation_issue]
作者:
Lu, Xing
;
Liu, Chao
;
Jiang, Huaxing
;
Zou, Xinbo
;
Zhang, Anping
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/02
Electrolyte-oxide-semiconductor structures as pH sensors based on resistive-switching characteristic
其他
2016-01-01
Wang, H.
;
Chen, Z.
;
Chen, X.
;
Wu, W.
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
ELECTROLYTE-OXIDE-SEMICONDUCTOR STRUCTURES AS PH SENSORS BASED ON RESISTIVE-SWITCHING CHARACTERISTIC
其他
2016-01-01
Wang, H.
;
Chen, Z.
;
Chen, X.
;
Wu, W.
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
FIELD-EFFECT TRANSISTOR
SYSTEMS
Leakage Current Analysis Using High Resistivity Silicon Gated Diodes For PIN Detectors Application
其他
2016-01-01
Hao Wang
;
Min Yu
;
Baohua Shi
;
Yahuan Huang
;
Xinyang Zhao
;
Yufeng Jin
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
thick
junction
leakage
gated
depletion
resistivity
evident
concluded
lifetime
specially
thick
junction
leakage
gated
depletion
resistivity
evident
concluded
lifetime
specially
gamma-ray detector based on n-type 4H-SiC Schottky barrier diode
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 20
作者:
Du YY(杜园园)
;
Zhang CL(张春雷)
;
Cao XL(曹学蕾)
;
Du, YY
收藏
  |  
浏览/下载:60/0
  |  
提交时间:2017/07/26
4H-SiC
wide-band semiconductor
Schottky diode
gamma-ray detector
A compact model of the reverse gate-leakage current in GaN-based HEMTs
期刊论文
2016, 卷号: 126, 页码: 10
作者:
Ma, Xiaoyu[1]
;
Huang, Junkai[1]
;
Fang, Jielin[1]
;
Deng, Wanling[1]
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/10
Effect of reverse leakage current on the reliability of InGaN/GaN high power LEDs
会议论文
作者:
Zheng, Chenju
;
Liu, Sheng
;
Zhou, Shengjun
;
Lv, Jiajiang
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Degradation
leakage current
Accelerated tests
serial resistance
Effect of reverse leakage current on the reliability of InGaN/GaN high power LEDs
期刊论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, 2016
作者:
Liu, Sheng
;
Zheng, Chenju
;
Lv, Jiajiang
;
Zhou, Shengjun
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/05
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace