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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Double synchronous-step-down-stress accelerated life testing method 期刊论文 Dianzi Keji Daxue Xuebao/Journal of the University of Electronic Science and Technology of China, 2016, 卷号: 45, 期号: 2, 页码: 316-320 作者:  Kou, Hai-Xia;  An, Zong-Wen;  Liu, Bo 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2020/11/14 Efficiency  Electron emission  Numerical methods  Reliability  Testing  Weibull distribution  Accelerated life testing  Accelerated life tests  Accelerated stress  High reliability  Reliability engineering  Reliability Evaluation  Step down  Test efficiency   Optical design of space detailed survey camera in the middle or high orbit 期刊论文 Zhongguo Jiguang/Chinese Journal of Lasers, 2016, 卷号: 43, 期号: 1 作者:  Wang, Y.;  W. Liu;  H. Fu;  D. Zhang;  Z. Wei and R. Feng 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2017/09/11 Compact Model of Dielectric Breakdown in Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 页码: 1762-1767 作者:  Wang, You;  Cai, Hao;  Naviner, Lirida Alves de Barros;  Zhang, Yue;  Zhao, Xiaoxuan 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/30 Breakdown probability  lifetime of magnetic tunnel junction (MTJ)  reliability analysis  switching voltage margin  Weibull distribution