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Experimental Study of Single Event Upset and Single Event Latch-up in SOI SRAM 会议论文
作者:  Zhang HY(张宏远);  Wang LF(王林飞);  Liu HN(刘海南);  Chen LK(陈丽坤);  Zhou YL(周月琳)
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2017/05/19
Monte Carlo predictions of proton SEE cross-sections from heavy ion test data 期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 页码: 47-52
作者:  Xi, Kai;  Geng, Chao;  Zhang, Zhan-Gang;  Hou, Ming-Dong;  Sun, You-Mei
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/05/31
A Fault Masking Dual Module Redundancy Method for FPGA 会议论文
Vancouver, Canada, 2016-5-15
作者:  Zheng, Meisong;  Wang, Zilong;  Wang, Zilong;  Li, Lijian
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2016/06/27
卫星固态存储器数据容错设计与机制 期刊论文
国防科技大学学报, 2016, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 101-106
作者:  宋琪;  邹业楠;  李姗;  安军社;  朱岩
收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2016/05/09
Monte-Carlo prediction of single-event characteristics of 65 nm CMOS SRAM under hundreds of MeV/n heavy-ions in space 会议论文
作者:  Zhang, Zhangang;  Lei, Zhifeng;  En, Yunfei;  Liu, Jie;  IEEE
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/03/27
Novel Low Cost and Double Node Upset Tolerant Latch Design for Nanoscale CMOS Technology 期刊论文
Proceedings of the Asian Test Symposium, 2016, 页码: 252-256
作者:  Liang,Huaguo;  Xu,Xiaolin;  Fang,Xiangsheng;  Yan,Aibin;  Huang,Zhengfeng
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/04/22
Degradation-shock-based Reliability Models for Fault-tolerant Systems 期刊论文
QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL, 2016, 卷号: 32, 页码: 949-955
作者:  Liu, Zhenyu;  Ma, Xiaobing;  Shen, Lijuan;  Zhao, Yu
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