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重庆大学 [3]
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期刊论文 [3]
发表日期
2016 [3]
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发表日期:2016
专题:重庆大学
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A SiC MOSFET gate capacitance extraction method and influence factors research
期刊论文
2016, 卷号: 36, 页码: 4224-4231
作者:
Li, Hui[1]
;
Liao, Xinglin[1]
;
Zeng, Zheng[1]
;
Shao, Weihua[1]
;
Hu, Yaogang[1]
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提交时间:2019/11/29
SiC MOSFET静态性能及参数温度依赖性的实验分析及与Si IGBT的对比 Temperature Dependency Characteristic of SiC MOSFET Static Performance Based on Comparative Analysis with Si IGBT
期刊论文
2016, 卷号: 14, 页码: 67-79
作者:
马青[1]
;
冉立[1]
;
胡博容[1]
;
曾正[1]
;
刘清阳[1]
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/28
SiCMOSFET栅极电容提取实验方法及影响因素研究 A SiC MOSFET Gate Capacitance Extraction Method and Influence Factors Research
期刊论文
2016, 卷号: 36, 页码: 4224-4231
作者:
李辉[1]
;
廖兴林[1]
;
曾正[1]
;
邵伟华[1]
;
胡姚刚[1]
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提交时间:2019/11/28
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