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EFFECTS OF POST-ANNEALING ON THE MICROSTRUCTURAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF AMORPHOUS LaAlO3 FILM GROWN ON Si 期刊论文
MODERN PHYSICS LETTERS B, 2012, 卷号: 26, 期号: 23
作者:  Liu, B. T.[1];  Zhang, X. G.[2];  Yang, L.[3];  Li, M.[4];  Dai, P. C.[5]
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