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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2008    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface-Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Jinyan Wang; Yilong Hao; Yaohui Zhang; Tang 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain  nitride  transistor  doping  Root  Polarization  collapse  conducting  Cause  charges  drain   Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13