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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2003    学科主题：半导体物理     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Thickness measurement of GaN epilayer using high resolution X-ray diffraction technique 期刊论文 science in china series g-physics astronomy, 2003, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 437-440 作者:  Zhao DG 收藏  |  浏览/下载：198/6  |  提交时间：2010/08/12 GaN  x-ray diffraction  thickness  SAPPHIRE  GROWTH  FILMS