32 微电子器件SEU灵敏体积研究
路秀琴 ; 刘建成 ; 郭继宇 ; 郭刚 ; 沈东军 ; 惠宁 ; 倪嵋楠 ; 孔福全 ; 张庆祥 ; 黄治 ; 张振龙 ; 韩建伟
刊名中国原子能科学研究院年报
2004
期号1页码:57-58
关键词微电子器件 SEU 灵敏 体积 PP模型 临界能量 单粒子效应 单粒子翻转 关键参数
通讯作者北京8701信箱
中文摘要航天微电子器件灵敏体积(Sv)的厚度d在预估空间单粒子效应中是一个关键参数.这是由于多数预估单粒子翻转(SEU)率的模型都用到灵敏体积的概念.人们假定器件灵敏区是个长方的六面体(RPP模型),当入射粒子在该长方六面体中沉积的能量大于临界能量时引起SEU等事件.由于缺乏灵敏体积的准确信息,通常采用2μm的厚度,使预估得出不满意的结果.器件灵敏层前面的死层厚度也严重的影响测量和预估的结果.研究从实验上测量灵敏体积(Sv)的实际大小,是精确预估器件空间SEE率的关键.
学科主题空间环境
资助信息国家自然科学基金资助项目
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/84]  
专题国家空间科学中心_保障部/保障与试验验证中心
推荐引用方式
GB/T 7714
路秀琴,刘建成,郭继宇,等. 32 微电子器件SEU灵敏体积研究[J]. 中国原子能科学研究院年报,2004(1):57-58.
APA 路秀琴.,刘建成.,郭继宇.,郭刚.,沈东军.,...&韩建伟.(2004).32 微电子器件SEU灵敏体积研究.中国原子能科学研究院年报(1),57-58.
MLA 路秀琴,et al."32 微电子器件SEU灵敏体积研究".中国原子能科学研究院年报 .1(2004):57-58.
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