光学系统降敏设计方法综述

CORC > 长春光学精密机械与物理研究所 > 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

	光学系统降敏设计方法综述
	孟庆宇 ; 秦子长 ; 任成明 ; 戚允升
刊名	中国光学(中英文)
	2022-09-15
卷号	15 期号:05 页码:863-877
英文摘要	光学系统性能的有效实现不仅依靠成像质量的设计结果，还受制于光学加工公差、装配公差、环境公差等多种公差的可实现性。具备低误差敏感度特征的光学系统，公差精度要求宽松，可以更好地抵抗误差引起的像质退化，在降低制造成本的同时，有效地提高了光学系统的可实现性，因此降低误差敏感度是光学系统设计应考虑的重要环节。本文分析了光学系统误差敏感度研究现状，总结了典型的光学系统降敏方法，并对这些方法在光学系统设计中的应用进行概述。最后，对光学系统低误差敏感度设计方法的未来发展进行了展望。
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66192]
专题	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位	1.中国科学院大学 2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	孟庆宇,秦子长,任成明,等. 光学系统降敏设计方法综述[J]. 中国光学(中英文),2022,15(05):863-877.
APA	孟庆宇,秦子长,任成明,&戚允升.(2022).光学系统降敏设计方法综述.中国光学(中英文),15(05),863-877.
MLA	孟庆宇,et al."光学系统降敏设计方法综述".中国光学(中英文) 15.05(2022):863-877.