点缺陷对Cr20Ni80合金电性能影响的第一性原理研究

doi:10.14158/j.cnki.1001-3814.20211117

	点缺陷对Cr20Ni80合金电性能影响的第一性原理研究
	李亚敏; 张瑶瑶
刊名	热加工工艺
	2021
卷号	50 期号:24 页码:69-73
关键词	空位和反位缺陷电性能第一性原理
DOI	10.14158/j.cnki.1001-3814.20211117
英文摘要	采用第一性原理计算和实验相结合的方法研究了空位及反位缺陷对Cr20Ni80合金电学性能的影响。构建了Cr20Ni80合金的超晶胞模型，计算了有无空位及反位缺陷时晶胞的形成能、态密度和能带结构，揭示了空位和反位缺陷对合金电学影响的本质原因；采用X射线衍射、电阻率测试等方法验证了空位对合金电学性能的影响。结果表明：空位及反位缺陷导致晶胞产生晶格畸变；空位及反位缺陷使合金导带的能量范围变窄，合金的电阻增大。空位对合金电阻率的影响与第一性原理计算结果的趋势相一致。
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语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lut.edu.cn/handle/2XXMBERH/149483]
专题	材料科学与工程学院
作者单位	兰州理工大学省部共建有色金属先进加工与再利用国家重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	李亚敏,张瑶瑶. 点缺陷对Cr20Ni80合金电性能影响的第一性原理研究[J]. 热加工工艺,2021,50(24):69-73.
APA	李亚敏,&张瑶瑶.(2021).点缺陷对Cr20Ni80合金电性能影响的第一性原理研究.热加工工艺,50(24),69-73.
MLA	李亚敏,et al."点缺陷对Cr20Ni80合金电性能影响的第一性原理研究".热加工工艺 50.24(2021):69-73.