电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响

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	电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响
	梁军
刊名	材料保护
	2007
卷号	40 期号:8 页码:24−26
关键词	镁合金微弧氧化电流密度微观结构耐蚀性 magnesium alloy microarc oxidation current density microstructure corrosion resistance
ISSN号	1001-1560
中文摘要	电流密度是影响微弧氧化膜层结构和性能的主要因素之一。采用测厚仪、扫描电镜(SEM)、电化学测试等手段研究了AM60B镁合金在不同电流密度下硅酸盐溶液中微弧氧化膜层的结构和耐蚀性能。结果表明,随电流密度的增大,氧化膜厚度呈线性增加;氧化膜的表面微孔数目减少,微裂纹扩展程度增大。电化学腐蚀测试结果显示,电流密度9.0 A/dm2下生成的氧化膜耐蚀性最好,主要与膜层较致密的微观结构有关。
学科主题	材料科学与物理化学
收录类别	CSCD
资助信息	创新研究群体科学基金(50421502)
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:2854684
公开日期	2013-11-01
内容类型	期刊论文
源URL	[http://210.77.64.217/handle/362003/4118]
专题	兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	梁军. 电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响[J]. 材料保护,2007,40(8):24−26.
APA	梁军.(2007).电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响.材料保护,40(8),24−26.
MLA	梁军."电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响".材料保护 40.8(2007):24−26.