| 基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法（授权发明） | |
| 韩建; 姜明达; 张凯; 肖东; 朱永田 | |
| 2021-06-18 | |
| 著作权人 | 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 |
| 专利号 | ZL201911189347.4 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法,两个不同波长的激光经过准直扩束后由半反半透镜分成两束,分别形成衍射m级检测条纹及0级检测条纹,前者由经反射后到达CCD A与入射光束透过分光棱镜到达拼接光栅与自准直反射后到达CCD A的两束光束在CCD A上形成干涉条纹；0级检测条纹是由半反半透镜分出的另一束经反射到CCD B上的光束与入射光束反射到CCD B上的光束干涉形成的条纹；CCD A与CCD B的输出经计算机数据处理分别接入两个驱动装置；使调整光栅B严格和基准光栅A拼接。本发明最大化实现闪耀拼接光栅的调整和检测,具有低成本、结构简单、高精度,可完成大尺寸光栅拼接的高精度的基本要求。 |
| 学科主题 | 天文技术与方法 |
| 申请日期 | 2019-11-28 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1918]  |
| 专题 | 南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果_专利 |
| 作者单位 | 南京天文光学技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩建,姜明达,张凯,等. 基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法（授权发明）. ZL201911189347.4. 2021-06-18. |
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