题名红外双谱段傅里叶变换成像光谱仪光学系统分析与设计研究
作者计云兵
答辩日期2018
文献子类硕士
授予单位中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所)
授予地点中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所)
导师王维彪 ; 梁静秋
关键词光学设计 中长波 傅里叶变换 成像光谱仪 离轴三反
学位名称硕士
英文摘要成像光谱探测技术是一种以光谱分析理论为核心,集成像与光谱探测为一体的新一代光学探测技术。作为一种极其重要的探测手段,成像光谱探测技术被广泛的应用于空间监测、环境保护等军用和民用领域。随着安全生产形势日益严峻、环境污染及灾害事故频发等问题的出现,能够快速检测、环境适用性强、稳定性高、可靠性好及轻小型化的宽谱段中长波红外成像光谱仪成为人们的迫切需求。为满足环境适用性强、稳定性高、宽谱段测量等应用需求,本文提出了一种基于静态干涉系统的中、长波红外双谱段时空联合调制傅里叶变换成像光谱仪,分别对前置望远光学系统及后置成像系统进行了设计。本文的主要工作包括以下三个方面1)本文研究了以阶梯微反射镜作为干涉系统核心器件的双谱段一体化静态傅里叶变换成像光谱仪,完成了系统的建模和仿真工作。根据系统的技术指标计算了成像光谱仪光学系统的技术参数及阶梯微反射镜的结构参数。2)根据像差理论,通过添加约束的方式,计算了反射式前置望远系统的初始结构,通过光学设计软件优化,矫正了系统中倾斜分束板和补偿板带来的大数量级像散和彗差。完成了透射式后置成像系统设计,将前置望远系统和后置成像系统进行对接优化,实现了良好的成像质量。最终得到了视场角为1.5°,中波通道F数为4、长波通道F数为2的整体光学系统。在双谱段范围,该光学系统的点列图RMS小于7.9μm,MTF值在探测器的特征频率17lp/mm处大于0.5,具有良好的成像效果。3)完成了成像光谱仪光学系统的杂散光及公差分析工作,得到了易于加工且杂散光得到有效抑制的整体系统,从而为后期仪器的加工及装调提供参考。
内容类型学位论文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/61601]  
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
计云兵. 红外双谱段傅里叶变换成像光谱仪光学系统分析与设计研究[D]. 中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所). 中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所). 2018.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace