PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究

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	PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究
	冯燕朋 1; 朱银莲 1; 唐云龙 1; 马秀良 1
刊名	电子显微学报
	2018
卷号	37.0 期号:006 页码:556-562
关键词	铁电薄膜畴组态铁电畴壁晶格缺陷
ISSN号	1000-6281
其他题名	Study of complex domain configuration and lattice defects in PbTiO3/SrTiO3(001)thin films
英文摘要	用透射电子显微镜对PbTiO3/SrTiO3(001)薄膜内部所形成的复杂畴组态以及畴壁处的位错进行了系统的研究。透射电镜结果和几何相位分析(GPA)表明,薄膜内部两个交叉的a畴内部出现了180°畴壁,导致在局部区域形成了全闭合畴结构,在铁电畴壁处观察到高密度位错。高分辨HAADF-STEM像分析显示,在90°畴壁处容易形成a 型位错,在180°畴壁处容易形成a 型位错,表明位错的形成与铁电畴壁类型存在强耦合关系。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:6399439
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/147738]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
作者单位	1.中国科学院金属研究所 2.中国科学院 3.兰州理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	冯燕朋,朱银莲,唐云龙,等. PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究[J]. 电子显微学报,2018,37.0(006):556-562.
APA	冯燕朋,朱银莲,唐云龙,&马秀良.(2018).PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究.电子显微学报,37.0(006),556-562.
MLA	冯燕朋,et al."PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究".电子显微学报 37.0.006(2018):556-562.